高溫老化房要達(dá)到滿意的合格率。幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都必須進(jìn)行老化。
在半導(dǎo)體工業(yè)中，關(guān)于器件老化的爭論很多。像其他產(chǎn)品一樣，由于各種原因，半導(dǎo)體可能隨時(shí)失效。高溫老化房的老化是為了使半導(dǎo)體過載，從而在短時(shí)間內(nèi)發(fā)生缺陷，以避免早期使用中的故障。如果不老化，由于設(shè)備和制造工藝的復(fù)雜性，許多半導(dǎo)體產(chǎn)品將在使用中引起許多問題。
在使用后數(shù)小時(shí)至數(shù)天之內(nèi)發(fā)生的缺陷稱為早期故障，而在故障后老化的設(shè)備基本上需要100％消除由該時(shí)間引起的故障。準(zhǔn)確確定老化房老化時(shí)間的唯一方法是參考以前收集的老化故障統(tǒng)計(jì)信息和老化房的故障分析。大多數(shù)制造商都希望減少或消除老化。
老化房的老化過程必須確保工廠的產(chǎn)品滿足用戶對可靠性的要求。另外，它還必須提供工程數(shù)據(jù)以改善設(shè)備的性能。
在高溫老化房中進(jìn)行老化測試的意義如下：
電子和電氣產(chǎn)品，無論是組件，零件還是完整的設(shè)備，都必須進(jìn)行老化和測試。
老化和測試不是一個(gè)概念。您必須在老化之前進(jìn)行測試。
電子產(chǎn)品是通過制造制造的，形成了可以使用的完整產(chǎn)品。但是，使用該產(chǎn)品后，發(fā)現(xiàn)會出現(xiàn)此類小故障，并且發(fā)現(xiàn)這些小故障大多數(shù)發(fā)生在數(shù)小時(shí)至數(shù)十次之內(nèi)。數(shù)小時(shí)之內(nèi)，電子產(chǎn)品的老化和測試就開始了。然后簡單規(guī)定。模擬等效或超出產(chǎn)品使用狀態(tài)的過程由產(chǎn)品制造商完成。
通過重新測試，將有問題的產(chǎn)品留在維修線上，將沒有問題的產(chǎn)品提供給用戶，以確保提供給用戶的產(chǎn)品可靠或出現(xiàn)問題的可能性較小。這就是老化測試的含義。
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